镀层测厚仪（镀层测厚仪原理）

涂层测厚仪工作原理

1、涂层测厚仪的工作原理基于电磁感应效应。其核心组件是探头，它被安置在待测部件的表面。当探头与铁磁性材料接触时，会形成一个闭合的磁回路。当探头与材料的距离发生改变时，这个磁回路的完整性也随之变化，导致磁阻和探头线圈中的电感值也随之相应调整。

2、电磁法测厚仪是采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪 ，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。

3、因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

4、采用电涡流原理的涂层测厚仪，原则上对所有导电基体上的非导电涂层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。涂层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者导电率之比至少相差3-5倍。

5、工作原理：膜厚仪通常采用磁性测量原理或电涡流测量原理，通过测量磁性膜层或金属膜层的厚度来确定表面覆盖层的厚度。而涂层测厚仪则采用电化学测量原理，通过测量涂层与基体之间的电化学信号来计算涂层的厚度。测量范围：膜厚仪的测量范围通常较广，可以测量从几微米到几百微米的膜层厚度。

6、镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

电镀层测厚仪荧光X射线仪检测原理

1、测量原理基于X射线或粒子射线照射物质时，物质吸收多余能量会变为不稳定状态，随后释放出荧光或光来恢复稳定。荧光X射线镀层厚度测量仪通过测量释放的荧光能量和强度，实现定性和定量分析。仪器主要包括样品室、X射线发生部、检测器和校正功能。

2、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。

3、X射线镀层测厚仪的使用原理是基于X射线荧光（XRF）技术。XRF技术是一种无损分析方法，可以通过对材料表面的X射线荧光辐射进行测量和分析，从而确定材料表面的元素组成和厚度。在X射线镀层测厚仪中，首先需要提供一个X射线源，通常采用高压电容器或X射线管来产生高能X射线。

4、电镀层测厚仪通过磁感应原理进行测量，其工作原理基于覆层厚度对磁通量的影响。测头中的磁通在经过非铁磁覆层后流入铁磁基体，磁通的大小直接与覆层厚度相关。磁阻的增大会反映出覆层厚度的增加，因为覆层越厚，磁阻值越大，磁通则随之减小。

5、荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

如何检测镀锌层厚度?

1、检测镀锌层厚度的方法包括电解库仑化学重量法、X射线荧光光谱仪测量以及使用涂层测厚仪如PD-CT2 plus。 电解库仑化学重量法操作较慢，至少需要半小时完成。 光谱仪成本高，起价至少二十万，并且不便携带。 当基材厚度达到0.5mm以上时，可以使用PD-CT2 plus涂层测厚仪进行测量。

2、镀锌钢板的镀锌层厚度可以通过电化学测试和物理机械测试来检测，这两种方法可以提供电化学行为和物理性能的数据。 检测镀锌钢板锌层厚度常用的方法有称重法、横截面显微镜法和磁性法。前两种方法会对镀锌钢板造成一定的损害，包括减少使用长度和用量。

3、检测镀锌层厚度的最简单直观方式是使用涂层测厚仪。这种设备能直接显示镀锌层的厚度值，厚度单位应为微米。这是一种非破坏性测试方法，被广泛应用于生产厂家检验和产品验收过程中。 另一种方法是取一段镀锌样件进行称重，然后将其完全浸入氯化锑溶液中以去除镀层。

4、镀锌层厚度的检测可以通过电化学测试和物理机械测试两种方法。这些方法能够提供电化学行为和物理性能的数据。 针对镀锌丝锌层厚度的检测，主要采用称重法、横截面显微镜法和磁性法这三种技术。需要注意的是，前两种方法可能会对镀锌丝造成一定的损害，这可能会影响镀锌丝的使用长度和总量。

5、镀锌层厚度的测量方法有多种，其中电位法测量是最准确的一种。这种方法通过腐蚀涂层直到接触到基体时产生的电位突变来计算腐蚀时间，从而推断涂层厚度。这种测试需要制作标准片，并且属于有损检测，适合在实验室环境中使用。然而，这种测试方法成本较高。

6、最简单直观的方法是采用“涂层测厚仪”进行测试可直接读出厚度值，厚度单位设置应为微米，该方法为非破坏性测试法，是生产厂家检验以及产品验收采用最普遍的方法。

金属镀层测厚仪磁感应测量原理

金属镀层测厚仪主要依据磁感应原理进行工作。其基本原理是通过测量从测头穿过的非铁磁覆层对进入铁磁基体的磁通量。磁通的大小与覆层厚度直接相关，覆层越厚，磁阻越大，磁通则相应减小。这种测厚仪适用于导磁基体上非导磁覆层的测量，通常要求基材的导磁率高于500单位。

电镀层测厚仪通过磁感应原理进行测量，其工作原理基于覆层厚度对磁通量的影响。测头中的磁通在经过非铁磁覆层后流入铁磁基体，磁通的大小直接与覆层厚度相关。磁阻的增大会反映出覆层厚度的增加，因为覆层越厚，磁阻值越大，磁通则随之减小。

膜厚测试仪的磁感应测量原理基于磁通的变化来测定覆层厚度。测头中的磁通会通过非铁磁覆层进入铁磁基体，其大小与覆层厚度直接相关。覆层越厚，磁阻增大，磁通减少。这种原理的测厚仪适用于测量导磁基体上的非导磁覆层，但基材导磁率需大于500。

采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。

金属镀层测厚仪的工作原理基于电涡流效应。当高频交流信号在测头线圈中产生电磁场时，当测头接近导体，会在其中形成涡流。涡流的大小与测头与导电基体的距离成反比，涡流的反射阻抗越大，表示基体与覆层间的距离越小，从而推断出覆层的厚度。

利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。